高低溫測試是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性的方法。試驗的嚴苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時間。 廣泛應(yīng)用于航飛產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品等行業(yè)中。今天小編跟大家聊聊高低溫試驗的測試標準。

高溫對電子產(chǎn)品的影響：

高溫可能使產(chǎn)品過熱，影響使用安全可靠性，甚至損壞。

如:①使絕緣或密封用灌膠融化產(chǎn)生流失，從而引起損壞。

   ②使材料性能發(fā)生變化。

   ③彈性元件的彈性或機械性能強度降低，縮短產(chǎn)品的使用壽命和產(chǎn)品性能。

   ④加速高分子材料和絕緣材料劣化和老化的過程，縮短產(chǎn)品使用壽命。

低溫對電子產(chǎn)品的影響：

低溫對機械、電工、電子產(chǎn)品影響是多個方面的，并因產(chǎn)品的性能、輔助結(jié)構(gòu)的特點而不同。

如:①使電解液凍結(jié)從而導(dǎo)致電解電容器、電池不能正常使用。

    ②潤滑油粘度增加，甚至冷凝凍結(jié)，影響產(chǎn)品氣動性能。

    ③影響電子產(chǎn)品的正常啟動，加大儀表的誤差值。

    ④使材料變脆，如塑料、鋼鐵在低溫下容易發(fā)生脆裂損壞，橡膠材料硬度增長，彈性下降。

高低溫試驗的標準

GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫

GJbI50.4-1986軍工設(shè)備環(huán)境試驗方法低溫試驗。

GJb150.4A-2009軍工裝備實驗室環(huán)境試驗方法低溫試驗

GJb4.3-1983艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗低溫試驗。 

GJb4.4-1983艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 低溫貯存試驗 

GIB1819-1993水雷通用規(guī)范

CB1146.2-1996船舶設(shè)備環(huán)境試驗與工程導(dǎo)則低溫。

HY016.2-1992海洋儀器基本環(huán)境試驗方法 試驗A:低溫試驗 

HY016.3-1992海洋儀器基本環(huán)境試驗方法試驗 Ha:低溫貯存試驗。

SI/T10325-1992汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法中第4.4.3條和第4.5.3條。

GB/T14710-2009醫(yī)用電器環(huán)境要求及試驗方法第 11.1條額定工作低溫、第 1 1.2條低溫貯存試驗。

GB12267-1990船用導(dǎo)航設(shè)備通用要求和試驗方法 第 1 4.3條低溫試驗。

GIb367A-2001軍工通信設(shè)備通用規(guī)范第4.7.27條低溫試驗。

GJb913A-2005艦船用配電裝置和控制裝置試驗方法第82條低溫試驗

GJb5457-2005發(fā)煙器材通用規(guī)范第4.6.6.2條低溫

GJb573A-1998 引信環(huán)境與性能試驗方法方法 306 高、低溫貯存試驗。

GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法試驗 B:高溫

GJb150.3-1986軍工設(shè)備環(huán)境試驗方法 高溫試驗

GJb150.3A-2009 軍工裝備實驗室環(huán)境試驗方法 高溫試驗。

GJb42-1983艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 高溫試驗

GJb 1819-1993水雷通用規(guī)范

CB11463-1996 船舶設(shè)備環(huán)境試驗與工程導(dǎo)則 高溫

HY016.4-1992海洋儀器基本環(huán)境試驗方法試驗B:高溫試驗。

HY0165-1992海洋儀器基本環(huán)境試驗方法 試驗 Hb:高溫貯存試驗。

SI/T10325-1992汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法中第 4.1.3條和第4.2.3條。

GB/T14710-2009醫(yī)用電器環(huán)境要求及試驗方法第 1 1.3條額定工作高溫試驗、第 1 1.4 條高溫貯存試驗。

GB12267-1990船用導(dǎo)航設(shè)備通用要求和試驗方法第 1 4.1條高溫試驗。

GJb367A-2001 軍 用通信設(shè)備通用規(guī)范 第4.7.28條高溫試驗。 

GJb913A-2005 艦船用配電裝置和控制裝置試驗方法第8.1條高溫試驗。

Gjb5457-2005 發(fā)煙器材通用規(guī)范第4.6.6.1條高溫。

Gjb573A-1998 引信環(huán)境與性能試驗方法方法306高、低溫貯存試驗。