高低溫試驗(yàn)箱產(chǎn)品具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其元器件及其它材料在高溫,低溫綜合環(huán)境下運(yùn)輸,使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。用于產(chǎn)品設(shè)計(jì),改進(jìn),鑒定及檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。電子產(chǎn)品高低溫國標(biāo)試驗(yàn)?zāi)睦锟梢宰觯?br data-filtered="filtered" style="box-sizing: border-box; font-family: "pingfang sc", Arial, Helvetica, Verdana, sans-serif; font-size: 14px; text-wrap: wrap; background-color: rgb(248, 248, 248);"/>
一、溫度波動度
這個(gè)指標(biāo)也有叫溫度穩(wěn)定度,控制溫度穩(wěn)定后,在給定任意時(shí)間間隔內(nèi),工作空間內(nèi)任一點(diǎn)的羅高和較低溫度之差。這里有個(gè)小小的區(qū)別“工作空間”并不是“工作室”,是大約去掉離箱壁各自邊長的1/10的一個(gè)空間。這個(gè)指標(biāo)考核產(chǎn)品的控制技術(shù)。
二、溫度范圍
指產(chǎn)品工作室能耐受和(或)能達(dá)到的頂限溫度。通常含有能控制恒定的概念,應(yīng)該是可以相對長時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行的頂值。一般溫度范圍包括頂限高溫和頂限低溫。
一般標(biāo)準(zhǔn)要求指標(biāo)為≤1℃或±0.5℃。
三、溫度均勻:
舊標(biāo)準(zhǔn)稱均勻度,新標(biāo)準(zhǔn)稱梯度。溫度穩(wěn)定后,在任意時(shí)間間隔內(nèi),工作空間內(nèi)任意兩點(diǎn)的溫度平均值之差的較大值。這個(gè)指標(biāo)比下面的溫度偏差指標(biāo)更可以考核產(chǎn)品的核心技術(shù),因此好多公司的樣本及方案刻意隱藏此項(xiàng)。
一般標(biāo)準(zhǔn)要求指標(biāo)為≤2℃。
四、溫度偏差
溫度穩(wěn)定后,在任意時(shí)間間隔內(nèi),工作空間中間溫度的平均值和工作空間內(nèi)其它點(diǎn)的溫度平均值之差。雖然新舊標(biāo)準(zhǔn)對此指標(biāo)的定義和稱呼相同,但檢測已有所改變,新標(biāo)準(zhǔn)更實(shí)際,更苛刻一點(diǎn),但考核時(shí)間短點(diǎn)。
GB_T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GBT 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
IEC 60068-2-2 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2-2部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)B:干熱
IEC 60068-2-1:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn):低溫
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