高低溫試驗箱是工業(yè)企業(yè)中使用較常見的環(huán)境試驗設(shè)備，試驗的目的是模擬考核整機(jī)設(shè)備、零部件、電子元器件等，在高低溫環(huán)境試驗條件下對環(huán)境的耐受性及環(huán)境的適應(yīng)性能力。那高低溫試驗的常用標(biāo)準(zhǔn)有哪些？下面武漢金測小編帶大家了解下。
 
高低溫試驗應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，可用于電子電氣元件、光通信電子、汽車電子元件、軍事裝備及用品、金屬等行業(yè)。

 
高低溫試驗箱可以真正考核該設(shè)備的低溫和高溫的適應(yīng)性，供給產(chǎn)品的環(huán)境可靠性；適應(yīng)市場的需要，很多場合都是需要提供高低 溫試驗檢測報告的。
　　
高低溫試驗的常用標(biāo)準(zhǔn)有哪些？主要包括以下這些：
GB_T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GBT2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫
IEC60068-2-2基本環(huán)境試驗規(guī)程第2-2部分：試驗試驗B:干熱
IEC60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗：低溫
GJB150.3A-2009
GJB150.4A-2009
GJB 4.3-1983
GJB 4.2-1983
GJB 4.4-1983
JESD22-A103E:2015
 
二、高低溫試驗分為：高溫工作、高溫貯存、低溫工作和低溫貯存四種類別。
1、高溫工作試驗：在高溫環(huán)境條件下，受試設(shè)備處于正常工作狀態(tài)下，高溫試驗期間，設(shè)備不應(yīng)發(fā)生異常；
2、低溫工作試驗：在低溫環(huán)境條件下，受試設(shè)備處于正常工作狀態(tài)下，低溫試驗期間，設(shè)備不應(yīng)發(fā)生異常；
3、高溫貯存試驗：在高溫環(huán)境條件下，受試設(shè)備處于斷電狀態(tài)，高溫試驗以后，設(shè)備各項性能指標(biāo)正常；
4、低溫貯存試驗：在低溫環(huán)境條件下，受試設(shè)備處于斷電狀態(tài)，低溫試驗以后，設(shè)備各項性能指標(biāo)正常。
 
武漢金測檢測技術(shù)有限公司是一家集檢測、計量、設(shè)備銷售與維護(hù)于一體的綜合型服務(wù)機(jī)構(gòu)，是CNAS及CMA資質(zhì)雙認(rèn)定的高新技術(shù)企業(yè)，公司環(huán)境與可靠性實驗設(shè)備齊全，執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)廣，非標(biāo)能力強大，可為客戶提供研發(fā)階段摸底實驗及CNAS鑒定實驗檢測報告。
 
以上就是小編對“高低溫試驗的常用標(biāo)準(zhǔn)有哪些？”的相關(guān)解答，如需了解更多詳情，歡迎來電咨詢，謝謝！