電子產(chǎn)品做高低試驗(yàn)的目的主要是為了考評(píng)電子產(chǎn)品在高溫或者低溫的惡劣環(huán)境下，經(jīng)過一定的時(shí)間后還能否正常使用。
 
武漢金測低溫試驗(yàn)是一般是運(yùn)用恒溫恒濕試驗(yàn)箱進(jìn)行試驗(yàn)的。試驗(yàn)前先檢查試驗(yàn)樣品的狀態(tài)，外觀、功能、性能等是否正常，并拍照；然后，將樣品放入恒溫恒濕試驗(yàn)箱箱中，設(shè)置溫度箱的高溫、低溫值及各自保持的時(shí)間、變溫的時(shí)間、周期數(shù)。
 
比如高溫70 °C下保持2小時(shí)，然后從70 °C半小時(shí)內(nèi)降到低溫-20 °C，保持2小時(shí)，再從-20 °C半小時(shí)內(nèi)升溫到70 °C。如此循環(huán)，試驗(yàn)20個(gè)循環(huán)。測完后，拿出樣品，檢查試驗(yàn)后樣品的外觀、功能、性能等。
如發(fā)現(xiàn)樣品跟試驗(yàn)前相比無明顯變化，或者變化在所定的標(biāo)準(zhǔn)范圍之類，則表示試驗(yàn)樣品的抗高低溫循環(huán)性能符合要求，否則為不符合。
電子電器產(chǎn)品的高低溫試驗(yàn)分為高低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)和高低溫運(yùn)行試驗(yàn)。高低溫存儲(chǔ)是產(chǎn)品不上電，在非工作狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn)。高低溫運(yùn)行是給產(chǎn)品供電，在產(chǎn)品工作狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn)。
 
高溫試驗(yàn)：
此試驗(yàn)中試件處于高溫空氣中，但不受到陽光直接照射。高溫試驗(yàn)針對(duì)高溫季節(jié)在室內(nèi)或密閉空間中或接近發(fā)動(dòng)機(jī)等熱源處儲(chǔ)藏或使用產(chǎn)品的情形。僅當(dāng)太陽輻射試驗(yàn)不能檢驗(yàn)高溫效應(yīng)時(shí)才進(jìn)行這項(xiàng)試驗(yàn)。高溫試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)在高溫環(huán)境中儲(chǔ)藏或使用的性能。高溫試驗(yàn)的目的是確定軍民用設(shè)備在常溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性。
 
高溫試驗(yàn)參考標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 2423.2，IEC 60068-2-2，EIA-364-17
 
主要技術(shù)參數(shù)（恒溫恒濕試驗(yàn)箱標(biāo)箱）： 

內(nèi)箱尺寸（D*W*H）：100*100*100cm
箱體內(nèi)容積：1000L
溫度范圍：-70℃～150℃
濕度范圍：百分之25～百分之95RH
升溫速率：-70℃～150℃：3.5℃/min（30kg鋁錠）； 
降溫速率：+150℃～-70℃：1.5℃/min（30kg鋁錠）；
較大電熱負(fù)載：(60℃，百分之95RH)，2000W
 
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